ICT/FICT
Проверка компонентов и соединений на PCB с помощью контактных игольчатых полей и матриц. Анализ электрических параметров по заранее подготовленной оснастке и процедурам.
Boundary-scan (JTAG)
Разрабатываем тест-приложения для микросхем с поддержкой IEEE 1149.x, используем решения JTAG Technologies для диагностики цепей и прошивки без доступа к щупам.
Проверка собранных устройств полностью или по подсистемам на соответствие функциональным требованиям: питание, интерфейсы, логика работы, прошивка, калибровки.